脉冲测试

脉冲测试是一种旨在减少器件总能耗的测量技术。该技术通过施加间隔短暂的脉冲信号，产生高质量的可测信号，随后移除信号源，以避免对小型纳米器件造成潜在损伤。

脉冲测试通过减少焦耳热效应（如I²R和V²/R）来降低器件的能量消耗。这种技术适用于具有恒温限制的器件，如SOI器件、FinFET和纳米器件，因为它能避免自热效应的影响，确保研究人员关注的响应特征得到充分展现。脉冲测试还允许工程师分析电荷俘获效应，这是一种在晶体管开启后导致漏极电流降低的现象。

脉冲测试可分为两种类型：加电压脉冲和加电流脉冲。电压脉冲测试产生的脉冲宽度通常比电流脉冲测试窄，使其特别适合热传输实验。电流脉冲测试则常用于测量较低电阻或获取器件的I-V特征曲线，同时避免对纳米器件造成过多能量损失。

脉冲测试在纳米材料、纳米电子学和当前半导体器件的研究中发挥着重要作用。它可以用于瞬态测试、可靠性测试、电荷俘获和交流应力测试等领域。

吉时利公司的4200脉冲I-V测试解决方案提供了一种名为RBT（Remote Bias-Tee）的系统互连箱，支持脉冲发生器与直流测试设备的AC/DC耦合。使用这套工具套件，研究人员可以同时进行直流和脉冲IV测试，以深入了解器件特性。此外，吉时利的6221/2182A组合可以帮助用户设置最佳的脉冲电流幅值、脉冲间隔、脉冲宽度和其他脉冲参数，以最大程度地降低DUT上的功耗。

参考资料 >

脉冲电压测试方法.百度文库.2024-10-30

脉冲测试原理.百度文库.2024-10-30

常规脉冲测试.百度文库.2024-10-30